NTC熱敏電阻性能對(duì)額溫槍測(cè)溫精度的影響(三）

文章出處：技術(shù)支持責(zé)任編輯：深圳新時(shí)恒電子科技有限公司發(fā)表時(shí)間：2020-06-10

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)額溫槍的測(cè)溫精度有明確要求

，見下表：

考慮到額溫槍兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)溫度點(diǎn)的校準(zhǔn)誤差和電路器件的系統(tǒng)誤差

，封裝在熱電堆里的NTC熱敏電阻性能導(dǎo)致的誤差就不得不考慮

。從下表可以看出

，市場(chǎng)上B值精度為±2%的產(chǎn)品是不能滿足額溫槍精度要求的

，B值精度為±1%的NTC熱敏電阻達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)也很勉強(qiáng)

。所以為滿足額溫槍測(cè)溫精度要求

，NTC熱敏電阻B值精度應(yīng)盡可能選高

。

需要特別指出的是NTC熱敏電阻作為額溫槍里熱電堆的溫度測(cè)量基準(zhǔn)

，不僅要求B值精度高

、批量一致性好，更要求其可靠性要高

、穩(wěn)定性要好

。NTC熱敏電阻的年漂移率一般必須控制在±0.4%以內(nèi)，這樣由于其漂移造成的溫度誤差才能小于0.1℃/年

。時(shí)恒電子生產(chǎn)的NTC熱敏電阻年漂移率小于0.04%

，由此造成的溫度誤差小于0.01℃/年，10年累計(jì)也不會(huì)超過0.1℃

。

事實(shí)上

，時(shí)恒電子生產(chǎn)的由這款芯片做成的MF58熱敏電阻產(chǎn)品，多年以前就通過了CQC 認(rèn)證

、UL

、C-UL 認(rèn)證，通過了嚴(yán)酷度極高的 UL 標(biāo)準(zhǔn)中 10 萬次耐久性壽命測(cè)試

、通過 AEC-Q200全性能試驗(yàn)

、環(huán)保 RoHS 檢測(cè)，這不僅在國(guó)內(nèi)

，在國(guó)際上也是出類拔萃的

。

這類小尺寸的NTC熱敏電阻，采用藍(lán)膜包裝

，適用于邦定

、電子焊、插件浸錫焊等工藝

，不僅僅在額溫槍用熱電堆中

，在IGBT模塊、信息控制模塊

、熱管式反應(yīng)器控制器

、光通信、半導(dǎo)體激光器/探測(cè)器等都有廣泛的應(yīng)用

。

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