,合格產(chǎn)品在正常使用條件下,參數(shù)漂移可控制在極低范圍:
1. 標稱電阻(R??)的穩(wěn)定性
短期穩(wěn)定性:在常溫(25℃)
、無應力環(huán)境下
,R??的漂移率通常≤0.1%/ 年(優(yōu)質產(chǎn)品可低至 0.05%/ 年)
。
長期穩(wěn)定性:連續(xù)使用 10 年后
,R??漂移率一般≤1%-3%(取決于材料和工藝),遠低于普通電阻(碳膜電阻漂移率可達 5%/ 年)
。
核心優(yōu)勢:陶瓷燒結的氧化物材料(如 MnO?-NiO 體系)化學性質穩(wěn)定
,常溫下晶格結構不易變化,因此基礎電阻值漂移小
。
2. B 值(材料常數(shù))的穩(wěn)定性
B 值直接反映 R-T 特性的靈敏度
,其穩(wěn)定性決定溫度測量的長期精度:
優(yōu)質 NTC 的 B 值漂移率≤0.1%/ 年,10 年內漂移通?div id="d48novz" class="flower left">
3. 極端條件下的穩(wěn)定性(考驗核心性能)